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讲稿2 (缺陷密度度量)

发表于2004/11/4 13:52:00  575人阅读

缺陷密度度量(DD) 是除了代码行(LOC)度量之外在业界应用最广的度量方法之一。缺陷密度度量定义如下:

DD = Defects
(K)LOC

Defects是软件发行以后一段时间(一般6个月)缺陷的数目。这里我们将不讨论实际应用中的度量问题。下面的图表可以说明使用DD度量时的效果。

Version 1 Version 2
# Defects LOC Defects/LOC Defects LOC Defects/LOC Relation

1

12

777

0.01544

3

55

0.05455

<

2

5

110

0.04545

6

110

0.05455

<

3

2

110

0.01818

3

110

0.02727

<

4

3

110

0.02727

4

110

0.03636

<

5

6

1000

0.00600

70

10000

0.00700

<

Sum

28

2107

0.01329

86

10385

0.00828

>

表1:缺陷密度度量行为。版本1与版本2缺陷密度度量的对应关系

假设,我们有两个程序版本,版本1和版本2,并且每个版本包含5个模块。对每个版本我们考察它的缺陷密度度量。我们可以看到,版本1的每个模块比版本2的每个模块都有较小的缺陷密度度量。当把每个版本的缺陷数(Defects)与代码行(LOC)数加起来后,我们得到合计行。结果令人吃惊,尽管版本1的每个模块的缺陷密度度量都比版本2的小,但版本1的所有模块的缺陷密度度量却比版本2的大。
问题是:这是怎么发生的?
请看第3讲( third lecture)给出的结论

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